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NANOMAP-PS 探針式臺階儀的簡單介紹簡介： 美國AEP Technology公司主要從事半導(dǎo)體檢測設(shè)備, MEMS檢測設(shè)備, 光學(xué)檢測設(shè)備的生產(chǎn)制造，是表面測量解決方案行業(yè)的領(lǐng)先供應(yīng)者,專門致力于材料表面形貌測量與檢測。公司始終致力于NANOMAP-PS 探針式臺階儀的詳細信息主要技術(shù)參數(shù)垂直分辨率: 0.1nm 重復(fù)性: 0.5nm(1Sigema @1um) 垂直范圍: 1000um 掃描范圍: 5000um 以上是NANOMAP-PS 探針式臺階儀的詳細信息，如果您對NANOMAP-PS 探針式臺階儀的價格、廠家、型號、圖片有任何疑問，請聯(lián)系我們獲取NANOMAP-PS 探針式臺階儀的最新信息 |
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