晶圓/芯片微弱電流測(cè)試數(shù)字源表的簡(jiǎn)單介紹

晶圓/芯片微弱電流測(cè)試數(shù)字源表的詳細(xì)信息

在半導(dǎo)體材料和器件的研究中，電性能測(cè)試是必不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的提升，微電子工藝逐漸復(fù)雜，如何對(duì)微電子材料器件進(jìn)行高效率測(cè)試成為業(yè)內(nèi)關(guān)注的重點(diǎn)。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號(hào)國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU，為進(jìn)一步打通測(cè)試融合壁壘，打造閉環(huán)解決方案，通過對(duì)半導(dǎo)體高端測(cè)試裝備上下游產(chǎn)業(yè)鏈的垂直整合，晶圓級(jí)微電子材料器件測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生!
普賽斯數(shù)字源表SMU是整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的核心部分，用戶可以根據(jù)材料器件不同的電流、電壓，配置不同規(guī)格參數(shù)的源表和探針臺(tái)。

更高效:靈活測(cè)試：

體積小巧，節(jié)省實(shí)驗(yàn)臺(tái)空間
接線簡(jiǎn)單，無需繁雜的同步觸發(fā)操作
適應(yīng)多種測(cè)量模式，如四探針、三同軸等

更可靠:廣泛應(yīng)用：
利用普賽斯這套國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表+探針臺(tái)的測(cè)試系統(tǒng)，可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測(cè)試。

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