愛佩科技 AP-GD 耐高低溫性能老化測試機的簡單介紹

愛佩科技 AP-GD 耐高低溫性能老化測試機的詳細(xì)信息

耐高低溫性能老化測試機常用于測試和試驗確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產(chǎn)品、材料進行高低溫交變或恒定溫?zé)嵩囼灨鞣N樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設(shè)、貯存的參數(shù)及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、化學(xué)、車輛、塑膠制品、金屬、建材、醫(yī)療、食品、航天等制品檢測質(zhì)量或研發(fā)之用。

耐高低溫性能老化測試機技術(shù)參數(shù)：

1.內(nèi)箱尺寸:W40×H50×D40cm；W50×H60×D50cm；W50×H75×D60cm；W60×H85×D80cm；

2.外箱尺寸約：以實際尺寸為準(zhǔn)，或咨詢業(yè)務(wù)員確認(rèn)。

3.溫/濕度范圍：0℃～150℃；-20℃～150℃；-40℃～150℃；-70℃～150℃/20%~98%（溫度可選）

4.升溫速度：常溫ß----->150℃約60分鐘（升溫約3℃每分鐘）

5.降溫速度：常溫ß----->-70℃約100分鐘（升溫約1℃每分鐘）

6.控制儀器精度：解析精度： ±0.01℃；溫度波動度：±0.5℃；溫度均勻度：±2.0℃；濕度均勻度：±1%RH

7.執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)

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