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規(guī)格:PMST2210

公司所在地:湖北武漢

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1993323884  
詳細(xì)信息

IGBT/SiC MOS大功率半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的簡(jiǎn)單介紹

集多種測(cè)量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測(cè)量不同封裝類(lèi)型功率器件靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、μΩ級(jí)導(dǎo)通電阻、nA級(jí)漏電

IGBT/SiC MOS大功率半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的詳細(xì)信息

IGBT/SiC MOS大功率半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)

高電壓:支持高達(dá)3.5KV高電壓測(cè)試(蕞大擴(kuò)展至12kV);
大電流:支持高達(dá)6KA大電流測(cè)試(多模塊并聯(lián));
高精度:支持uΩ級(jí)導(dǎo)通電阻、nA級(jí)漏電流測(cè)試;
模塊化設(shè)計(jì):內(nèi)部采用模塊化配置,可添加或升級(jí)測(cè)量單元;
測(cè)試效率高:可自動(dòng)切換、一鍵測(cè)試;
溫度范圍廣:支持常溫、高溫測(cè)試;
兼容多種封裝:根據(jù)測(cè)試需求可定制夾具;



系統(tǒng)參數(shù)

項(xiàng)目

參數(shù)

集電極-發(fā)射極

蕞大電壓

3500V(可拓展至12KV)

最大電流

1000A(可拓展至6000A)

準(zhǔn)確度

±0.1%

大電壓上升沿

典型值5ms

大電流上升沿

典型值15μs

大電流脈寬

50μs~500μs

漏電流測(cè)試量程

1nA~100mA

柵極-發(fā)射極

蕞大電壓

300V

蕞大電流

1A(直流)/10A(脈沖)

準(zhǔn)確度

±0.05%

最小電壓分辨率

30μV

最小電流分辨率

10pA

電容測(cè)試

典型精度

±0.5%

頻率范圍

10Hz~1MHz

電容值范圍

0.01pF~9.9999F

溫控

范圍

25℃~200℃

準(zhǔn)確度

±2℃



測(cè)試項(xiàng)目

二極管:反向擊穿電壓VR、反向漏電流IR、正向電壓VF 正向電流IF、電容值CdI-V曲線(xiàn)、C-V曲線(xiàn)

三極管:V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBOICBO、VCE(sat)、VBE(sat)、IC、IB、Ceb、 增益hFE,輸入特性曲線(xiàn)、輸出特性曲線(xiàn)、C-V特性曲線(xiàn)

Si MOS/IGBT/SiC MOS/GaN HEMT:V(BR)DSS/V(BR)CESIDSS/ICES、VCE(sat)RDS(on)、VSD/VF、VGS(th)/、VGE(th)、IGSS/IGES柵極內(nèi)阻Rg、輸入電容Ciss/Cies、輸出電容、Coss/Coes、反向傳輸電容Crss/Cres、跨導(dǎo)gfs、輸出特性曲線(xiàn)、 轉(zhuǎn)移特性曲線(xiàn)、C-V特性曲線(xiàn)

光耦(四端口以下):IF、VFV(BR)CEO、VCE(sat)ICEO、IR、輸入電容CT、輸出電容CCE、 電流傳輸比CTR、隔離電容CIO


測(cè)試夾具

針對(duì)市面上不同封裝類(lèi)型的硅基功率半導(dǎo)體,IGBT、SiC、MOS、GaN等產(chǎn)品,普賽斯提供整套測(cè)試夾具解決方案,可用于T0單管,半橋模組等產(chǎn)品的測(cè)試。


以上是IGBT/SiC MOS大功率半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的詳細(xì)信息,如果您對(duì)IGBT/SiC MOS大功率半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有任何疑問(wèn),請(qǐng)聯(lián)系我們獲取IGBT/SiC MOS大功率半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的最新信息

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