可程式高低溫試驗箱適用工業(yè)品高、超低溫的可靠性測試。對電子電工、小車摩托車、航天航空、船只兵器圖片、高等學校、科研機構(gòu)等有關(guān)商品的零配件及原材料在高、超低溫（交替變化）循環(huán)系統(tǒng)轉(zhuǎn)變的狀況下，檢測其各類性能參數(shù)。

    可程式高低溫試驗箱由許多的系統(tǒng)軟件構(gòu)成，為大伙兒敘述的是制冷機組，都是機器設(shè)備的關(guān)鍵系統(tǒng)軟件，致冷循環(huán)系統(tǒng)選用逆卡若循環(huán)系統(tǒng)，該循環(huán)系統(tǒng)出2個等溫過程和2個絕熱過程構(gòu)成，其全過程以下：

    冷媒經(jīng)制冷壓縮機隔熱縮小到較高的工作壓力，耗費了的功使排氣管溫度上升。

    其次、冷媒經(jīng)冷卻器等溫地和周圍物質(zhì)開展熱交換器將發(fā)熱量發(fā)送給周圍物質(zhì)后，冷媒經(jīng)截留閥絕熱變形作功，這時候冷媒溫度減少。

    冷媒根據(jù)空調(diào)蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物塊放熱，使被水冷卻物塊溫度減少。此循環(huán)系統(tǒng)循環(huán)往復進而超過減溫之目地。制冷機組的設(shè)計方案運用動能調(diào)整技術(shù)性，即能確保致冷實驗發(fā)電機組一切正常運作，又能對制冷機組的耗能及空調(diào)制冷量開展合理的調(diào)整，使制冷機組維持在*佳的運作情況，*終超過這種穩(wěn)定平衡。

 半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱具有較寬的溫度調(diào)節(jié)控制范圍，可滿足國家標準本產(chǎn)品滿足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等國家標準《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法，試驗Ca：恒定濕熱試驗方法，試驗Db：交變濕熱試驗方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96國家標準制造件，并可按軍標試驗要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非標準制作各種半導體材料高低溫試驗設(shè)備。并等效滿足GJB150.9-86等相應(yīng)的國標、軍標；也可按客戶的要求制造非標準產(chǎn)品。