冷熱驟變試驗(yàn)機(jī)所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則;GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;GJB150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn);GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn);GJB 150.5A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn);GJB367.2-1987 軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn);IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。